文章摘要:现场可编程门阵列（field programmable gate array， FPGA）极易遭受由空间高能粒子辐射引发的故障，进而影响片上任务的正常执行．目前通常采用三模冗余（triple modular redundance， TMR）进行容错设计，尽管可以取得较好的容错效果但存在资源开销大的问题，尤其是在辐射水平较低的情况下对全部任务采用三模冗余方式执行使得上述问题更加严重．针对此，提出了一种基于动态自适应冗余的FPGA容错方法．首先，利用片上块存储（block RAM， BRAM）对空间粒子辐射的高敏感性，设计改进了基于BRAM的辐射水平监测器，周期性监测空间环境的辐射水平；其次，以每个任务执行周期的松弛度时间和当前辐射水平为标准评估任务的可靠性等级，进而在不同辐射水平下以单个任务为粒度动态自适应的匹配冗余策略，保证片上任务成功执行同时避免高资源开销．仿真实验表明，采用该方法的FPGA在不同辐射水平下具备高可靠性，与目前主流的FPGA冗余容错方法相比，在同一辐射水平条件下，片上任务完成量平均提高了57.2%．

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